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电容器运行标准-允许过电压

  • Posted on 七月 13, 2010 at 下午 10:40

电能质量分析仪电容器允许在其1.1倍额定电压下长期运行.在运行中,由于倒闸操作,电压调整,负荷变化等因素能引起电力系统波动,产生过电压.有些电压虽然幅值较高,但时间很短,对电容器影响不大,所以电容器组允许短时间的过电压电能质量分析仪.

电能质量分析仪http://www.ca-17.cn
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绝缘电阻测试仪常见问题2

  • Posted on 七月 13, 2010 at 下午 8:14

使用哪种测试导线来连接兆欧计和被测设备?

绝缘电阻测试仪兆欧计使用的导线必须符合长期加载测试电压的规范要求,符合绝缘材料质量的要求.使用不合适的测量导线可能引起测量误差甚至产生危险绝缘电阻测试仪.

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绝缘电阻测试仪常见问题1

  • Posted on 七月 12, 2010 at 下午 8:48

我的测试结果是X兆欧,它是不是好的?

    绝缘电阻测试仪这个问题没有单一的回答.设备制造商或合适的标准可以确定的回答这个问题.对于低压设备,1MΩ可以被认为是最小数值.对于高压设备来说,一个好的经验法则是:绝缘电阻测试仪最小阻值为1MΩ每kV.而IEEE指导方针关于旋转机械推荐最低绝缘电阻为(n+1)MΩ,其中n为操作电压的数值(单位kV)绝缘电阻测试仪.

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电容器运行标准-允许温升

  • Posted on 七月 12, 2010 at 下午 8:16

电能质量分析仪电容器运行温度过高,会影响其使用寿命,甚至引起介质击穿,造成电容器损坏.因此温度对电容器的运行是一个极为重要的因素.电容器的周围环境温度请按制造厂的规定进行控制.若厂家无规定时,一般应为了-40~+40(金属化膜电容器为了-45~+50).电能质量分析仪电容器油箱外壳最热点允许温度(即油箱外壳高度2/3处装设温度计所测数值)也应遵守厂家规定.若无规定时,可按下列数值控制:矿物油和充烷基苯的电容器为50℃,充硅油的电容器为55℃电能质量分析仪.

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测试安全

  • Posted on 七月 11, 2010 at 下午 8:58

绝缘电阻测试仪测试前:

A.这个测试必须在断开连接的,非流动的装置上进行,以确保测试电压不会施加于连接到被测电路上的其他设备上.

B.确认电路处于放电状态.可以短接设备的端口和/或接地连接一个规定的时长(视放电时间而定)

C.在易燃易爆场合下,特别防护是非常必要的,因为仪器在放电时(测试前和测试后)可能会有电火花发生,测试中如果绝缘受损也会发生电火花绝缘电阻测试仪.

D.因为可能很高的直流电压存在,应当禁止无关人员进入并且必须穿戴特殊防护设备(例如高压绝缘手套)进行操作.

E.只使用合适的电缆进行连接并确保它们状况良好,在最佳案例情境下,不合适的导线将引起测量误差,但是更重要的是,可能引起危险!

绝缘电阻测试仪测试后:

在测试结束后,绝缘体重累积了一定量的电能,而在电能被放电前,不可以进行任何操作.一个简单的安全规则:对设备的放电时间5倍于充电时间(最后一次测试时间).设备可以通过短接两极和/或接地来放电.所有CA制造的兆欧计都装有内部放电电路来确保安全,可以做到自动放电,绝缘电阻测试仪.

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电容器运行允许过电流

  • Posted on 七月 11, 2010 at 下午 8:13

电能质量分析仪电容器组允许在其1.3倍额定电流下长期运行(日本,美国,德国和比利时进口的电容器允许在1.35倍额定电流长期运行).通过电容器组的电流与端电压成正比,该电流包括最高允许工频过电压引起的过电流和设计时考虑在内的电网高次谐波电压引起的过电流,因此过电流的限额较过电压的高.电能质量分析仪电容器组长期连续运行允许的过电流为其额定电流的1.3倍,即运行中允许长期超过电容器组额定电流的30%,其中10%是工频过电压引起的过电流,还有20%留给高次谐波电压引起的过电流电能质量分析仪.

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绝缘放电(DD)测试法

  • Posted on 七月 10, 2010 at 上午 2:12

绝缘电阻测试仪绝缘放电测试也被称为再吸收电流测试,是通过测量被测设备上绝缘体放电电流的一种方法.

在标准绝缘测试中,所有三个电流组成部分(电容充电电流、极化电流和泄漏电流)都存在,极化电流或吸收电流的检测可能会受到泄漏电流的影响.不是在绝缘测试中试着测量极化电流,取而代之的是绝缘放电(DD)测试方法,在绝缘测试后测量去极化电流和电容充电电流.

绝缘电阻测试仪测量方法如下:先对被测设备充电至稳定状态(电容充电和极化已完成,只剩下泄漏电流).然后被测设备通过兆欧计内的一个电阻器放电,并且测量这个电流.这个电流就是总电介质放电电流,由电容充电电流和再吸收电流组成.这个电流是在标准时间1分钟后测得的电流.这个电流取决于全部电容和最后测量电压.DD数值的计算公式如下:

DD=电流1分钟后/(测试电压×电容)

当多层次绝缘体其中一层损坏或者污染时,绝缘放电测试可以确定过量的放电电流事故.使用抽查或PI和DAR测试,一个绝缘缺陷可能被忽略.如果绝缘层中的一层受损了,由于给定的电压和电容,放电电流可能比较大.个别层次的时间常数将不再匹配它的其他层次,比起一个为损坏的绝缘体将导致一个更高的电流值.绝缘层均质的绝缘体的DD值将接近于零,而可接受的多层次绝缘体的最大DD数值不超过2.下表显示了根据获得的DD值判断的绝缘情况,绝缘电阻测试仪.

 

DD值 绝缘状况
>7 极差
4~7 不好
2~4 有问题的
<2 好的

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基于不同电压的测试方法(步进电压测试)

  • Posted on 七月 8, 2010 at 下午 11:21

绝缘电阻测试仪污染物的存在(灰尘,污垢等)或绝缘体表面的水汽这类问题经常会被按时的绝缘电阻测试(PI、DAR等)清楚地显示出来.然而,只施加一个比介电强度测试稍低的电压,绝缘老化或机械损伤有时可能会被上述两种测试方法忽略.反之,显著增加测试电压可能引起绝缘薄弱点失效,导致绝缘电阻值大幅下降.

    绝缘电阻测试仪为使其有效,两步进电压之间的比例应为1至5,且每一步进电压需持续同样的时间(通常为1至10分钟),虽然仍低于介电强度测试电压(2Un+1000V).这种方法测得的结果完全不依赖于绝缘类型和温度,因为这种方法不是基于绝缘材料内在阻值测量的.但是在相同时间内使用不同测试电压后,有效减少了读数,

    第一步进和第二步进测得的绝缘电阻阻值下降25%或更多时,表明绝缘材料由于污染物导致绝缘退化绝缘电阻测试仪.

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可控硅式电容柜(新式)

  • Posted on 七月 8, 2010 at 下午 9:59

电能质量分析仪使用两个反并联的可控硅控制三相角接的电力电容器,使用过零触发模块,当系统中欠补(系统中感性无功大于容性无功)时,该模块接受触发命令后,能自动捕捉可控硅两端电压,当电压为2V~6V时,触发可控硅,使可控硅导通投入电容器.产生的涌流仅为电容器额定电流的1.5~1.7倍,可控硅式电容柜由于控制了其导通时两端的电压,所以很好地控制了涌流.电能质量分析仪

由于是两个反并联的可控硅组成可控硅模块,一个可控硅在电压波形的上半周导通,另一个在下半周导通.当系统中过补(系统中容性无功大于感性无功)时,过零触发模块接收不到触发命令,可控硅会自然关断,而且速度快.由于不存在触点,无电弧重燃现象,电网电压与电容器端电压产生不了迭加,从而很好地控制了过电压电能质量分析仪.

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http://www.17.net.cn/main/listmulu151.html
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电介质吸收比(DAR)

  • Posted on 七月 7, 2010 at 下午 7:55

绝缘电阻测试仪电介质吸收比(DAR)

对于某些包含绝缘材料的设备和装置来说,其吸收电流的下降非常快,绝缘测量在30秒和60秒后就足以满足要求.电介质吸收比定义如下:

DAR=R60秒绝缘值/R30秒绝缘值

绝缘电阻测试仪结果评估见下表:

DAR值 绝缘状况
<1.25 不足
<1.6 好的
>1.6

优秀的